آنالیز SPM

متقاضی گرامی پس از ثبت نام در پرتال و ورود به سامانه می‌توانید از طریق دکمه مقابل فرم درخواست آنالیز خود را تکمیل نمایید: فرم درخواست آنالیز


spm

ارائه نقشه توپوگرافی (سه بعدی) سطح، نقشه مناطقی از سطح که از نظر فیزیکی یا شیمیایی از بقیه نقاط متمایز هستند. اطلاعاتی در مورد خواص الکتریکی، مکانیکی، مغناطیسی، اپتیکی
· دقت اندازه گیری تا 1/0 نانومتر
حداقل نمونه لازم: از نظر ابعادی حداکثر 3 سانتی متر و از نظر ارتفاع کمتر از 3 میلی متر

مدهای دستگاه:

  • Atomic Force Microscopy =  AFM : تصویر توپوگرافی، تصویر فاز، اندازه­گیری پارامترهای زبری و سه بعدی کردن تصویر، اندازه ذرات و توضیح ذرات از نظر ارتفاع، شکاف سطح، بررسی کیفیت ساختار، بررسی تحولات ساختار با گذشت زمان و در شرایط مختلف
  • Scanning Tunneling Microscopy = STM : بررسی ساختار و خواص سطوح مواد رسانا
  • Frictional/ Lateral Force Microscopy =  LFM-FFM :  اندازه­گیری چسبندگی و اصطکاک و نیروهای پیوندی در سطوح جامد و مایع
  • Magnetic Force Microscopy = MFM : مطالعه خواص مغناطیسی موضعی و تغییرات نیروی مغناطیسی در سطح نمونه، به تصویر کشیدن ساختار حوزه­های مغناطیسی ایجاد شده به طور طبیعی یا مصنوعی در مواد مغناطیسی
  • Electrochemical Scnning Tunneling Microscopy =  ECSTM : تصویر توپوگرافی قبل و بعد از اکسیداسیون و احیاء، مطالعات خوردگی
  • Liquid Cell بررسی توپوگرافی و خواص سطوح در محیط مایع، مطالعات ماکرومولکول­ها و نمونه­های بیولوژیکی

متقاضی گرامی پس از ثبت نام در پرتال و ورود به سامانه می‌توانید از طریق دکمه مقابل فرم درخواست آنالیز خود را تکمیل نمایید: فرم درخواست آنالیز

شیمی کلینیک علم و صنعت

عضویت در خبرنامه

اطلاعات تماس

شیمی کلینیک

» تهران، میدان رسالت، خیابان فرجام، نرسیده به چهار راه خاور، خیابان شهید حسینعلی، پلاک 9، مرکز رشد دانشگاه علم و صنعت ایران، کدپستی: 1681963113

» تلفن : 09360921992

» info@shimiclinic.com

جستجو